工业显微镜的三种测量方法介绍

工业显微镜的三种测量方法主要包括轴切法、影像法和接触法。

轴切法：这是一种利用中央显微镜的标记对通过测件轴心线并利用测量刀上的刻线进行瞄准定位的测量方法。在测量时，把测量刀放在测量刀垫板上，刻线面通过测件的轴线，并使测刀的刃口和被测面紧紧接触，用相应的米字线去瞄准，测量两把测刀刻线间的距离，就间接测得被测件的测量值。这种方法特别适用于尺寸较大的圆柱型样品，因为对于这类样品，使用影像法测量可能会由于样品母线在显微视场下模糊不清或照明系统光阑大小选择不当而引起较大误差。

影像法：这种方法是利用中央显微镜的标记对影像进行瞄准定位的测量方法。其操作过程可能包括将米字分划版上的十字线瞄准样品一侧边缘，记录下此刻读数器的数值，然后移动显微镜的工作台，让同一根分划线对准样品另一侧边缘，再次记录度数器上的数值。两次读数的差值就是被测件的测量值。

接触法：这种方法则是利用中央显微镜的标记对和紧靠测件测量点、线、面的万工显附件——光学测孔器的测头连在一起的双刻线进行瞄准定位的测量方法。

此外，还有目镜分化测量法，这是简单快捷的测量方式。在显微镜的目镜上，激光打标了标尺线，此线基本上是十字型，并且在十字线冲分的有方格。每列的标准尺寸是0.1mm。调清晰所看的物件后，把要测量的物件挪动在标尺网上，随后读值。此类测量方式的精度较差，但非常便捷。

另外，测量方法还有刀口法和轴切法，这是一种光学和机械综合的方法，主要测量螺纹的轴切面，也用于测量圆柱、圆锥和平的试件，因为调节误差极小且不受外来影响。还有阴影法和反射法，阴影法是纯粹的光学方法，而反射法与阴影法相似，特点是可以测量边缘和标记。

这些方法各有特点，应根据具体的测量需求和被测件的性质来选择合适的测量方法。同时，在进行测量时，需要注意操作规范，以保证测量结果的准确性和可靠性。